我们的镀层测厚仪是基于X射线荧光光谱分析技术，该技术已被普遍认可并且得到广泛应用,可以在无需样品制备的情况下提供易于操作，快速和无损的分析。可分析固体和液体，元素范围包括从元素周期表中的14Si到92U。

MAXXI 6针对较薄而复杂的样品，具有完美的解决方案。MAXXI 6配备多准直器系统及超大样品舱，是最佳功能性与最高检测精度兼备的理想工具。

亮点：

• 采用微聚焦X射线光管，实现高精度，高可靠性，测量时间短，购置成本低
• 采用高分辨率的硅漂移探测器(SDD),提供能量级别的最佳效率，极低的检出限（LOD)
• 多准直器可优化不同尺寸样品荧光信号产额，提高测量效率
• 开槽式超大样品舱设计，十分适合电路板或其他超大平板样品
• “USB接口 ”只需通过USB与计算机连接，无需额外的硬件或软件
• 德国制造，符合最高工程标准，坚固耐用的设计可实现长期可靠性
• 通过PTB(Physikalisch Technische Bundesanstalt)认证，满足最高辐射安全标准
• 最多同时测定5层，15种元素及共存元素的校正
• 同时实现多于25种元素的定量分析
• 检测方法通过ISO3497，ASTM B568，DIN50987和IEC 62321等认证
• 对ROHS和贵金属进行工厂预装校准（可选）

COMPACT Eco和Maxxi Eco能提供目前最高的性价比，而Maxxi5是既要满足最佳功能性又要满足最高检测精度的理想工具。

我们的镀层测厚仪是基于X射线荧光技术，该技术已经被证实并且得到广泛应用，可以在无须样品制备的情况下提供易于操作，快速和无损的分析。Maxxi5能分析固体和液体，元素范围包括从Ti22-U92。

亮点：
无损检测只需几秒钟
为质量保证和过程控制提供单层和多层分析
合金成分的定量分析
用于优化电镀液控制的金属离子含量分析

选项：
不能样品尺寸大小都能得到最好的结果：带可编程X射线管电流控制的自动多准直器系统。
自动化批量检测：XYZ软件控制程控台和最大灵活性移动式测量头
 

功能强大、性能可靠且操作简单的能量色散型X射线荧光光谱仪， 确保品质的同时降低成本 。

X-Strata 920有三种配置满足各种形状和尺寸的样品。固定样品台用于小型或超薄部件的快速定位。加深样品台的可移动托盘可快速设置满足小型和大型部件（大至6“）.程控样品台可自动分析多个样品或同一个样品上的多个部位。

X-Strata 产品能分析功能性涂料和电路板，电子元器件，集成电路（IC)，硬盘驱动器（HDD)和光电产品上的镀层。